美国Keysight（是德科技）计量科学家赴上海院作学术报告

　　近日，全球知名的电子测试仪器设备制造商Keysight（是德科技）的高级计量科学家Ken Wong应邀赴上海院电子电气所做学术报告。　　Ken Wong先生为HP（惠普）、Agilent（安捷伦）、Keysight（是德科技）服务46年，是ARFTG的成员以及IEEE的高级会员。他先后从事产品设计、产品生产流程开发、射频微波产品及测试流程开发，负责微波参考标准开发建模及测试工作以及矢量网络分析仪的校准方法研究，获得过多个美国专利。 　　Ken Wong此行带来了最新发表的研究成果：量化噪声参数对Y因子法噪声系数测量的误差贡献。Y因子法是确定被测设备（DUT）的噪声系数（NF）或有效输入噪声温度（Ta）的最常用技术，Ken Wong的研究解决当Y因子法的真实环境与理想假设不符时测量误差大的问题，给出一个预测由噪声源反射系数引起的附加不确定性的新模型。此外还介绍了世界无线电微波计量发展演变趋势，介绍了有源器件/变频器件/毫米波太赫兹器件测试的最前沿技术与最新测量手段。活动现场还进行最新测量技术的操作实践，我院电子电气所技术人员踊跃参与、积极互动，并就日常工作当中遇到的测量难题进行热烈地讨论。　　通过此次与是德科技计量专家的交流，上海院技术人员获取了业内最新的动态和技术发展趋势，对如今国际最新的无线电计量技术和领先的计量测试设备的发展有了全新的了解。